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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有
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Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量
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SEM QUANTAX EDS
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现最快、最可靠的结果:节省时间
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Prisma E赛默飞 SEM扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
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牛津仪器扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — 适用于EBSD and EDS Characterisation of high entropy alloys
电子显微镜(SEM)中的能谱分析(EDS),专用于钢铁夹杂物的分析和分类,使SEM中的钢铁夹杂物分析变得更有效、更准确。它检测、测量并分析夹杂物,将数据结果按照公布的标准方法进行处理,并包含绘制复杂
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EDAX EDS TEM Octane
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EDAX EDS Octane Elect
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台,融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect
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EDAX EDS Octane Elite
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口,使轻元素检测和低 kV 微区分
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Axia™ ChemiSEM™ 扫描电镜Thermo Scientific™扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载 Axia™ ChemiSEM™ 扫描电镜Thermo Scientific™扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要
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能谱探测器牛津仪器X射线能谱仪EDS 适用于Characterisation
领域。 SEM-EDS is the go-to method for the characterisation of many materials and is being used
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